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引言“篩分”是一種歷史悠久的顆粒粒度分析技術(shù)，廣泛應(yīng)用于建筑材料、制藥和增材制造等行業(yè)。盡管該方法行之有效，但通常勞動密集，且易受人為主觀操作、取樣偏差、篩網(wǎng)老化及堵塞等因素影響而產(chǎn)生誤差。此外，篩分法通常需要大量的樣品量，這會造成其在某些應(yīng)用中可能受到限制。激光衍射技術(shù)因其多方面的優(yōu)勢成為篩分法一個有吸引力的替代方案。它是一項廣泛應(yīng)用于多種行業(yè)的標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)，能夠快速測量且所需樣品量更少。激光衍射還能提供高度可重復(fù)和可再現(xiàn)的結(jié)果，使其成為許多行業(yè)從篩分技術(shù)轉(zhuǎn)型，進(jìn)行常規(guī)粒度分...

引言顆粒表征技術(shù)種類繁多，每種技術(shù)產(chǎn)生的數(shù)據(jù)結(jié)果及粒徑報告定義各不相同，這導(dǎo)致實驗室使用多種分析工具時容易產(chǎn)生混淆。常見問題包括：“哪種粒徑定義適合特定技術(shù)？哪種粒度定義適合數(shù)據(jù)比較？”通常，被測體系的復(fù)雜性會進(jìn)一步增加數(shù)據(jù)解讀的難度。NanoSightPro納米顆粒跟蹤分析（NTA）是常用于表征粒子尺寸的光散射技術(shù)之一。馬爾文帕納科NanoSightPro納米顆粒跟蹤分析儀（圖1）運(yùn)用NTA技術(shù)，在表征納米材料與生物樣本時提供高分辨率的粒度及濃度數(shù)據(jù)。通過直接成像和對逐個顆...

在云答疑活動中，X射線熒光儀客戶的提問相當(dāng)踴躍，為了更好的給予回復(fù)，應(yīng)用專家綜合近幾年云答疑的問題給出FAQ，我們將根據(jù)問題類型分批在【知識庫】欄目中推出，敬請XRF用戶持續(xù)關(guān)注！本文我們先盤點(diǎn)部分X射線熒光光譜（XRF）技術(shù)相關(guān)的方法問題與應(yīng)用專家的答案一起為您放送，對于一些知識點(diǎn)類的問題，我們還將單獨(dú)成文，希望可以幫助您優(yōu)化儀器使用，進(jìn)一步提高您的XRF的利用率。XRF系列產(chǎn)品方法相關(guān)FAQ01問什么時候用歸一化，什么時候不用歸一化？答歸不歸一，取決于該方法是否測量了樣品...

在之前的推文中我們已經(jīng)回顧了2025年的“云答疑”活動中關(guān)于顆粒表征相關(guān)技術(shù)的常見問題。本文我們將盤點(diǎn)X射線衍射（XRD）技術(shù)云答疑的部分典型的共性問題，并配以應(yīng)用專家的回答作為合集放送，希望可以幫助您優(yōu)化儀器使用，進(jìn)一步提高您實驗室的檢測能力。X射線衍射技術(shù)相關(guān)FAQ01問半定量分析過程人造石墨負(fù)極材料的石墨化度測試過程中，如何減小平行樣的差值？答混合標(biāo)樣時要足夠均勻，固定制樣-測量-分析流程，可選用PearsonVII函數(shù)+拆分峰寬做峰形擬合。問無背景硅片在使用一段時間后...

熒光光譜儀是一種用于測量物質(zhì)在特定波長激發(fā)光照射下所發(fā)射熒光的強(qiáng)度、波長分布及壽命等特性的精密分析儀器。其基本原理是：當(dāng)物質(zhì)吸收高能光子（通常為紫外或可見光）后，電子躍遷至激發(fā)態(tài)，隨后通過非輻射弛豫回到較低激發(fā)態(tài)，并以發(fā)射較低能量光子（即熒光）的形式返回基態(tài)。通過檢測熒光信號，可對樣品的成分、結(jié)構(gòu)、濃度及微環(huán)境變化進(jìn)行定性與定量分析。該儀器具有靈敏度高（可達(dá)ppb甚至ppt級）、選擇性好、非破壞性、樣品用量少等優(yōu)點(diǎn)，廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物醫(yī)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測、材料科學(xué)、食品檢測及藥物...